ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ → Линейные и угловые измерения *Включая геометрические характеристики (GPS) → Измерительные приборы
ГОСТ 8.171-75. Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия
Настоящий стандарт распространяется на меры поверхностной плотности, предназначенные для воспроизведения единицы поверхностной плотности листовых и ленточных материалов в диапазоне от 2 до 30000 г/м кв. на площади от 5 до 600 см кв
Название на англ.: | State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications |
Тип документа: | стандарт |
Статус документа: | действующий |
Число страниц: | 36 |
Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
Дата издания: | 10.11.1975 |
Дата введения в действие: | 01.01.1977 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Поправки и изменения:
- Изменение №1 к ГОСТ 8.171-75
- Изменение №1 к ГОСТ 8.171-75
- Изменение №1 к ГОСТ 8.171-75
- Изменение №2 к ГОСТ 8.171-75
- Изменение №2 к ГОСТ 8.171-75
- Изменение №3 к ГОСТ 8.171-75
- Изменение №3 к ГОСТ 8.171-75
- Изменение №3 к ГОСТ 8.171-75