gostus

ГОСТ РФ

Общероссийский классификатор стандартовМЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯЛинейные и угловые измерения *Включая геометрические характеристики (GPS)

17.040. Линейные и угловые измерения *Включая геометрические характеристики (GPS)

1 2 3 4 575 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88

  • ГОСТ 30987-2003.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Основные нормы взаимозаменяемости. Назначение размеров и допусков для нежестких деталей
    Basic norms of interchangeability. Dimensioning and tolerancing for non-rigid parts
    Настоящий стандарт распространяется на нежесткие детали машин и приборов и устанавливает для них правила назначения размеров и допусков
  • ГОСТ Р 8.628-2007.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления
    State system for ensuring the uniformity of measurements. Single-crystal silicon nanometer range relief measures. Requirements for geometrical shapes, linear sizes and manufacturing material selection
    Настоящий стандарт устанавливает требования к геометрическим формам и линейным размерам, а также к выбору материала для изготовления рельефных мер нанометрового диапазона из монокристаллического кремния для диапазона линейных измерений от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м.
    Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры, предназначенные для проведения всех видов поверок растровых электронных измерительных микроскопов по ГОСТ Р 8.631 и сканирующих зондовых атомно-силовых измерительных микроскопов по ГОСТ Р 8.630 при проведении государственного метрологического контроля (надзора), а также на рельефные меры, используемые при калибровке указанных типов микроскопов
  • ГОСТ Р 8.628-2007.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления
    State system for ensuring the uniformity of measurements. Single-crystal silicon nanometer range relief measures. Requirements for geometrical shapes, linear sizes and manufacturing material selection
    Настоящий стандарт устанавливает требования к геометрическим формам и линейным размерам, а также к выбору материала для изготовления рельефных мер нанометрового диапазона из монокристаллического кремния для диапазона линейных измерений от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м.
    Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры, предназначенные для проведения всех видов поверок растровых электронных измерительных микроскопов по ГОСТ Р 8.631 и сканирующих зондовых атомно-силовых измерительных микроскопов по ГОСТ Р 8.630 при проведении государственного метрологического контроля (надзора), а также на рельефные меры, используемые при калибровке указанных типов микроскопов
  • ГОСТ Р 8.628-2007.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления
    State system for ensuring the uniformity of measurements. Single-crystal silicon nanometer range relief measures. Requirements for geometrical shapes, linear sizes and manufacturing material selection
    Настоящий стандарт устанавливает требования к геометрическим формам и линейным размерам, а также к выбору материала для изготовления рельефных мер нанометрового диапазона из монокристаллического кремния для диапазона линейных измерений от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м.
    Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры, предназначенные для проведения всех видов поверок растровых электронных измерительных микроскопов по ГОСТ Р 8.631 и сканирующих зондовых атомно-силовых измерительных микроскопов по ГОСТ Р 8.630 при проведении государственного метрологического контроля (надзора), а также на рельефные меры, используемые при калибровке указанных типов микроскопов
  • ГОСТ Р 8.629-2007.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
    State system for ensuring the uniformity of measurements. Nanometer range relief measures with trapezoidal profile of elements. Methods for verification
    Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, линейные размеры и материал для изготовления которых соответствуют требованиям ГОСТ Р 8.628. Рельефные меры применяют при измерении линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м.
    Настоящий стандарт устанавливает методику первичной и периодических поверок рельефных мер.
    Межповерочный интервал рельефной меры - один год
  • ГОСТ Р 8.629-2007.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
    State system for ensuring the uniformity of measurements. Nanometer range relief measures with trapezoidal profile of elements. Methods for verification
    Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, линейные размеры и материал для изготовления которых соответствуют требованиям ГОСТ Р 8.628. Рельефные меры применяют при измерении линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м.
    Настоящий стандарт устанавливает методику первичной и периодических поверок рельефных мер.
    Межповерочный интервал рельефной меры - один год
  • ГОСТ Р 8.629-2007.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
    State system for ensuring the uniformity of measurements. Nanometer range relief measures with trapezoidal profile of elements. Methods for verification
    Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, линейные размеры и материал для изготовления которых соответствуют требованиям ГОСТ Р 8.628. Рельефные меры применяют при измерении линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м.
    Настоящий стандарт устанавливает методику первичной и периодических поверок рельефных мер.
    Межповерочный интервал рельефной меры - один год
  • ГОСТ Р 8.630-2007.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки
    State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe measuring microscopes. Methods for verification
    Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629.
    Межповерочный интервал микроскопа - один год
  • ГОСТ Р 8.630-2007.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки
    State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe measuring microscopes. Methods for verification
    Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629.
    Межповерочный интервал микроскопа - один год
  • ГОСТ Р 8.630-2007.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки
    State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe measuring microscopes. Methods for verification
    Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629.
    Межповерочный интервал микроскопа - один год

1 2 3 4 575 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88

29 октября 2024:
Новые ограничения: список товаров двойного назначения пополнился Читать далее
24 октября 2024:
Запрет на вывоз товаров двойного назначения: новый список утверждён Читать далее
5 октября 2024:
ГОСТ 32119-2024: новые стандарты качества для детской одежды Читать далее