ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
31.260. Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
← 1 2 3 4 5 … 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 … 26 27 28 29 30 →
- Фотоэлементы. Метод измерения темнового тока
Photocells. Method of dark current measurement
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устнавливает метод прямого измерения темнового тока - Фотоэлементы. Метод измерения сопротивления изоляции
Photocells. Method of insulation resistance measurement
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения сопротивления изоляции участка анод - охранное кольцо - Фотоэлементы. Метод измерения сопротивления изоляции
Photocells. Method of insulation resistance measurement
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения сопротивления изоляции участка анод - охранное кольцо - Фотоэлементы. Метод измерения сопротивления изоляции
Photocells. Method of insulation resistance measurement
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения сопротивления изоляции участка анод - охранное кольцо - Фотоэлементы. Метод измерения неравномерности чувствительности
Photocells. Method of measurement of sensitivity nenuniformity
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения неравномерности чувствительности - Фотоэлементы. Метод измерения неравномерности чувствительности
Photocells. Method of measurement of sensitivity nenuniformity
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения неравномерности чувствительности - Фотоэлементы. Метод измерения неравномерности чувствительности
Photocells. Method of measurement of sensitivity nenuniformity
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения неравномерности чувствительности - Фотоэлементы. Метод измерения нестабильности
Photocells. Method of instability measurement
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения нестабильности фотоэлементов при фототоках в цепи фотоэлемента от 10 в ст. минус 10 А и выше - Фотоэлементы. Метод измерения нестабильности
Photocells. Method of instability measurement
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения нестабильности фотоэлементов при фототоках в цепи фотоэлемента от 10 в ст. минус 10 А и выше - Фотоэлементы. Метод измерения нестабильности
Photocells. Method of instability measurement
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения нестабильности фотоэлементов при фототоках в цепи фотоэлемента от 10 в ст. минус 10 А и выше
← 1 2 3 4 5 … 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 … 26 27 28 29 30 →