ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
31.260. Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
← 1 2 3 4 5 … 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 →
- Лазеры и излучатели твердотельные. Методы измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения
Lasers and solid-state laser heads. Measurement methods of peak local energy (power) density
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели и устанавливает два метода измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения:
А - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на ослаблении энергии (мощности) лазерного излучения;
Б - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на концентрации энергии (мощности) лазерного излучения.
Минимальный диаметр сечения контролируемой области максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения составляет 100 мкм - Лазеры и излучатели твердотельные. Методы измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения
Lasers and solid-state laser heads. Measurement methods of peak local energy (power) density
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели и устанавливает два метода измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения:
А - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на ослаблении энергии (мощности) лазерного излучения;
Б - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на концентрации энергии (мощности) лазерного излучения.
Минимальный диаметр сечения контролируемой области максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения составляет 100 мкм - Лазеры и излучатели твердотельные. Метод измерения поляризационных характеристик лазерного излучения
Lasers and solid-state laser heads. Method of measurement of polarization characteristics
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели импульсного режима с модуляцией добротности и устанавливает метод измерения параметров, определяющих состояние поляризации лазерного излучения: параметров Стокса, степени поляризации лазерного излучения, азимута эллиптически-поляризованного излучения, эллиптичности поляризации - Лазеры и излучатели твердотельные. Метод измерения поляризационных характеристик лазерного излучения
Lasers and solid-state laser heads. Method of measurement of polarization characteristics
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели импульсного режима с модуляцией добротности и устанавливает метод измерения параметров, определяющих состояние поляризации лазерного излучения: параметров Стокса, степени поляризации лазерного излучения, азимута эллиптически-поляризованного излучения, эллиптичности поляризации - Лазеры и излучатели твердотельные. Метод измерения поляризационных характеристик лазерного излучения
Lasers and solid-state laser heads. Method of measurement of polarization characteristics
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели импульсного режима с модуляцией добротности и устанавливает метод измерения параметров, определяющих состояние поляризации лазерного излучения: параметров Стокса, степени поляризации лазерного излучения, азимута эллиптически-поляризованного излучения, эллиптичности поляризации - Излучатели полупроводниковые. Метод измерения угла излучения
Semiconductor photoemitters. Measuring method for halfintensity angle
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает метод измерения угла излучения. Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 19834.0, термины - по ГОСТ 27299 - Излучатели полупроводниковые. Метод измерения угла излучения
Semiconductor photoemitters. Measuring method for halfintensity angle
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает метод измерения угла излучения. Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 19834.0, термины - по ГОСТ 27299 - Излучатели полупроводниковые. Метод измерения угла излучения
Semiconductor photoemitters. Measuring method for halfintensity angle
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает метод измерения угла излучения. Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 19834.0, термины - по ГОСТ 27299 - Приборы наблюдательные телескопические. Методы контроля параметров
Observation telescopes. Test methods of characteristics
Настоящий стандарт распространяется на оптические наблюдательные телескопические приборы (бинокли, монокуляры, зрительные трубы, охотничьи прицелы) и устанавливает методы измерения и контроля параметров:
углового увеличения;
диаметра выходного зрачка и его удаления от окуляра;
коэффициента пропускания;
коэффициента рассеяния;
углового поля зрения;
сходимости выходящего из окуляра пучка лучей;
отклонения от параллельности выходящих из окуляров пучков лучей;
межзрачкового расстояния;
предела разрешения;
угла поворота изображения - Приборы наблюдательные телескопические. Методы контроля параметров
Observation telescopes. Test methods of characteristics
Настоящий стандарт распространяется на оптические наблюдательные телескопические приборы (бинокли, монокуляры, зрительные трубы, охотничьи прицелы) и устанавливает методы измерения и контроля параметров:
углового увеличения;
диаметра выходного зрачка и его удаления от окуляра;
коэффициента пропускания;
коэффициента рассеяния;
углового поля зрения;
сходимости выходящего из окуляра пучка лучей;
отклонения от параллельности выходящих из окуляров пучков лучей;
межзрачкового расстояния;
предела разрешения;
угла поворота изображения