ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
31.260. Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
← 1 2 3 4 5 … 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 →
- Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Методы измерения параметров
Photosensitive charge transfer device. Measuring methods for parameters
Настоящий стандарт распространяется на фоточувствительные приборы с переносом заряда линейные и матричные (далее-приборы), предназначенные для работы в радиотехнических и телевизионных системах в области спектра от 350 до 1100 нм, и устанавливает методы измерения следующих параметров и характеристик: выходного сигнала; напряжения насыщения и тока насыщения; неравномерности выходного сигнала; интегральной чувствительности; темнового сигнала и неравномерности темнового сигнала; монохроматическо чувствительностий и области спектральной чувствительности; коэффициента передачи модуляции; числа дефектов фоточувствительного поля; среднего квадратического напряжения шума и динамического диапазона; пороговой освещенности и пороговой экспозиции; токов утечки между электродами - Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 5. Оптоэлектронные приборы
Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 5. Optoelectronic devices
Настоящий стандарт устанавливает требования к следующим классам или подклассам приборов: полупроводниковые излучатели, включая: оптоэлектронные полупроводниковые приборы отображения информации (на рассмотрении), светоизлучающие диоды (СИД), инфракрасные излучающие диоды (ИК-диоды), полупроводниковые лазеры (на рассмотрении); полупроводниковые фоточувствительные приборы, включая: фотодиоды, фототранзисторы; фототиристоры (на рассмотрении); фотопары, оптопары.
Настоящий стандарт разработан методом прямого применения международного стандарта МЭК 747-5-84 - Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 5. Оптоэлектронные приборы
Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 5. Optoelectronic devices
Настоящий стандарт устанавливает требования к следующим классам или подклассам приборов: полупроводниковые излучатели, включая: оптоэлектронные полупроводниковые приборы отображения информации (на рассмотрении), светоизлучающие диоды (СИД), инфракрасные излучающие диоды (ИК-диоды), полупроводниковые лазеры (на рассмотрении); полупроводниковые фоточувствительные приборы, включая: фотодиоды, фототранзисторы; фототиристоры (на рассмотрении); фотопары, оптопары.
Настоящий стандарт разработан методом прямого применения международного стандарта МЭК 747-5-84 - Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 5. Оптоэлектронные приборы
Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 5. Optoelectronic devices
Настоящий стандарт устанавливает требования к следующим классам или подклассам приборов: полупроводниковые излучатели, включая: оптоэлектронные полупроводниковые приборы отображения информации (на рассмотрении), светоизлучающие диоды (СИД), инфракрасные излучающие диоды (ИК-диоды), полупроводниковые лазеры (на рассмотрении); полупроводниковые фоточувствительные приборы, включая: фотодиоды, фототранзисторы; фототиристоры (на рассмотрении); фотопары, оптопары.
Настоящий стандарт разработан методом прямого применения международного стандарта МЭК 747-5-84 - Государственная система обеспечения единства измерений. Лазеры измерительные. Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements. Measuring lasers. Method for verification
Настоящий стандарт распространяется на лазеры непрерывного излучения и устанавливает методику первичной и периодической поверок - Государственная система обеспечения единства измерений. Лазеры измерительные. Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements. Measuring lasers. Method for verification
Настоящий стандарт распространяется на лазеры непрерывного излучения и устанавливает методику первичной и периодической поверок - Государственная система обеспечения единства измерений. Лазеры измерительные. Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements. Measuring lasers. Method for verification
Настоящий стандарт распространяется на лазеры непрерывного излучения и устанавливает методику первичной и периодической поверок - Система стандартов безопасности труда. Лазеры. Методы дозиметрического контроля лазерного излучения
Occupational safety standards system. Lasers. Methods of dosimetrical control of laser radiation
Настоящий стандарт устанавливает методы определения степени опасности лазерного излучения для организма человека, основанные на измерении параметров излучения на рабочих местах операторов лазерных установок.
Стандарт следует применять совместно с ГОСТ 12.1.040, ГОСТ Р 50723, Санитарными нормами и правилами [1] - Система стандартов безопасности труда. Лазеры. Методы дозиметрического контроля лазерного излучения
Occupational safety standards system. Lasers. Methods of dosimetrical control of laser radiation
Настоящий стандарт устанавливает методы определения степени опасности лазерного излучения для организма человека, основанные на измерении параметров излучения на рабочих местах операторов лазерных установок.
Стандарт следует применять совместно с ГОСТ 12.1.040, ГОСТ Р 50723, Санитарными нормами и правилами [1] - Лазеры и излучатели твердотельные. Методы измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения
Lasers and solid-state laser heads. Measurement methods of peak local energy (power) density
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели и устанавливает два метода измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения:
А - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на ослаблении энергии (мощности) лазерного излучения;
Б - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на концентрации энергии (мощности) лазерного излучения.
Минимальный диаметр сечения контролируемой области максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения составляет 100 мкм