ГОСТ РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОТЕХНИКАПолупроводниковые материалы

29.045. Полупроводниковые материалы

1 2 3 4 5 6

  • ГОСТ 19658-81.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний монокристаллический в слитках. Технические условия
    Monocrystalline silicon in ingots. Specifications
    Настоящий стандарт распространяется на слитки монокристаллического кремния, получаемые методом Чохральского и предназначенные для изготовления пластин-подложек, используемых в производстве эпитаксиальных структур и структур металл-диэлектрик-полупроводник
  • ГОСТ 19658-81.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний монокристаллический в слитках. Технические условия
    Monocrystalline silicon in ingots. Specifications
    Настоящий стандарт распространяется на слитки монокристаллического кремния, получаемые методом Чохральского и предназначенные для изготовления пластин-подложек, используемых в производстве эпитаксиальных структур и структур металл-диэлектрик-полупроводник
  • ГОСТ 19658-81.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний монокристаллический в слитках. Технические условия
    Monocrystalline silicon in ingots. Specifications
    Настоящий стандарт распространяется на слитки монокристаллического кремния, получаемые методом Чохральского и предназначенные для изготовления пластин-подложек, используемых в производстве эпитаксиальных структур и структур металл-диэлектрик-полупроводник
  • ГОСТ 22265-76.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Материалы проводниковые. Термины и определения
    Conductor materials. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области проводниковых материалов. Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, учебниках, учебных пособиях, технической и справочной литературе
  • ГОСТ 22265-76.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Материалы проводниковые. Термины и определения
    Conductor materials. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области проводниковых материалов. Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, учебниках, учебных пособиях, технической и справочной литературе
  • ГОСТ 22622-77.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Материалы полупроводниковые. Термины и определения основных электрофизических параметров
    Semiconductor materials. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий полупроводниковых материалов
  • ГОСТ 22622-77.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Материалы полупроводниковые. Термины и определения основных электрофизических параметров
    Semiconductor materials. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий полупроводниковых материалов
  • ГОСТ 26239.0-84.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализа
    Semiconductor silicon, raw materials for its production and quartz. General requirements for methods of analysis
    Настоящий стандарт устанавливает общие требования к методам анализа полупроводникового кремния, исходных продуктов для его получения ( технический кремний, четыреххлористый кремний, хлорсиланы, двуокись кремния) и кварца
  • ГОСТ 26239.0-84.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализа
    Semiconductor silicon, raw materials for its production and quartz. General requirements for methods of analysis
    Настоящий стандарт устанавливает общие требования к методам анализа полупроводникового кремния, исходных продуктов для его получения ( технический кремний, четыреххлористый кремний, хлорсиланы, двуокись кремния) и кварца
  • ГОСТ 26239.0-84.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализа
    Semiconductor silicon, raw materials for its production and quartz. General requirements for methods of analysis
    Настоящий стандарт устанавливает общие требования к методам анализа полупроводникового кремния, исходных продуктов для его получения ( технический кремний, четыреххлористый кремний, хлорсиланы, двуокись кремния) и кварца

1 2 3 4 5 6

26 января 2022:
Нововведения в сертификации, запланированные на 2022 год Читать далее
18 января 2022:
На какую продукцию распространяется ТР ТС 046/2018? Читать далее
8 января 2022:
Срок действия СГР на косметику и парфюмерию, для которых изменились требования Читать далее