ГОСТ РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОТЕХНИКА → Полупроводниковые материалы

29.045. Полупроводниковые материалы

1 2 3 4 5 6

  • ГОСТ 4.64-80.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
    Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature
    Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции
  • ГОСТ 4.64-80.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
    Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature
    Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции
  • ГОСТ 4.64-80.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
    Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature
    Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции
  • ГОСТ 2169-69.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний технический. Технические условия
    Silicon technical. Specifications
    Настоящий стандарт распространяется на кремний, получаемый путем восстановительной плавки кварцита в дуговых электропечах, предназначенный для изготовления кремнийсодержащих сплавов, кремнийорганической продукции, полупроводникового кремния, а также для спеццелей
  • ГОСТ 2169-69.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний технический. Технические условия
    Silicon technical. Specifications
    Настоящий стандарт распространяется на кремний, получаемый путем восстановительной плавки кварцита в дуговых электропечах, предназначенный для изготовления кремнийсодержащих сплавов, кремнийорганической продукции, полупроводникового кремния, а также для спеццелей
  • ГОСТ 2169-69.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний технический. Технические условия
    Silicon technical. Specifications
    Настоящий стандарт распространяется на кремний, получаемый путем восстановительной плавки кварцита в дуговых электропечах, предназначенный для изготовления кремнийсодержащих сплавов, кремнийорганической продукции, полупроводникового кремния, а также для спеццелей
  • ГОСТ 19014.0-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний кристаллический. Общие требования к методам химического анализа
    Crystal silicon. General requirements for methods of chemical analysis
    Настоящий стандарт устанавливает общие требования к методам химического анализа кристаллического кремния
  • ГОСТ 19014.0-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний кристаллический. Общие требования к методам химического анализа
    Crystal silicon. General requirements for methods of chemical analysis
    Настоящий стандарт устанавливает общие требования к методам химического анализа кристаллического кремния
  • ГОСТ 19014.0-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний кристаллический. Общие требования к методам химического анализа
    Crystal silicon. General requirements for methods of chemical analysis
    Настоящий стандарт устанавливает общие требования к методам химического анализа кристаллического кремния
  • ГОСТ 19014.1-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Кремний кристаллический. Методы определения алюминия
    Crystal silicon. Methods of aluminium determination
    Настоящий стандарт устанавливает титриметрический и атомно-абсорбционный методы определения алюминия (при массовой доле алюминия от 0,30 до 1,60 %) в кристаллическом кремнии

1 2 3 4 5 6

25 ноября 2021:
Новый функционал ФГИС Росаккредитации Читать далее
17 ноября 2021:
Суть планируемых изменений ТР ТС 004 и ТР ТС 020 Читать далее
3 ноября 2021:
Разработана Программа национальной стандартизации на 2022 год Читать далее