ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА
31. ЭЛЕКТРОНИКА
← 1 2 3 4 5 … 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 … 232 233 234 235 236 →
- Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления
Reference diodes. Methods for measuring differential resistance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе - Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления
Reference diodes. Methods for measuring differential resistance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе - Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:
метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц;
метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц - Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:
метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц;
метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц - Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:
метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц;
метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц - Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения - Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения - Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения - Транзисторы полевые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров
Field effect transistors. Terms, definitions and parameter symbols
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров полевых транзисторов - Транзисторы полевые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров
Field effect transistors. Terms, definitions and parameter symbols
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров полевых транзисторов
← 1 2 3 4 5 … 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 … 232 233 234 235 236 →