ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА
31. ЭЛЕКТРОНИКА
← 1 2 3 4 5 … 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 … 232 233 234 235 236 →
- Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки - Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод - Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод - Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения - Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения - Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения - Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления - Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления - Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ - Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
← 1 2 3 4 5 … 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 … 232 233 234 235 236 →