gostus

ГОСТ РФ

Общероссийский классификатор стандартовМЕТАЛЛУРГИЯ

77. МЕТАЛЛУРГИЯ

1 2 3 4 5537 538 539 540 541 542 543 544 545 546 547593 594 595 596 597

  • ГОСТ 27981.3-88.
    заменён
    от: 01.08.2013
    Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно - спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра
    Copper of high purity. Method of emission-spectral analysis with photoelectric registration of spectrum
    Настоящий стандарт устанавливает эмиссионно-спектральный метод определения примесей в меди высокой чистоты в диапазонах массовых долей х.10 в ст. минус 4. Метод основан на измерении интенсивностей спектральных линий определяемых элементов на дифракционном спектрометре типа МФС-6, МФС-8. Спектр излучения возбуждается дугой постоянного тока между подставным графитовым электродом и таблеткой оксида меди, полученной путем растворения пробы в азотной кислоте и термическом разложении солей
  • ГОСТ 27981.3-88.
    заменён
    от: 01.08.2013
    Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно - спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра
    Copper of high purity. Method of emission-spectral analysis with photoelectric registration of spectrum
    Настоящий стандарт устанавливает эмиссионно-спектральный метод определения примесей в меди высокой чистоты в диапазонах массовых долей х.10 в ст. минус 4. Метод основан на измерении интенсивностей спектральных линий определяемых элементов на дифракционном спектрометре типа МФС-6, МФС-8. Спектр излучения возбуждается дугой постоянного тока между подставным графитовым электродом и таблеткой оксида меди, полученной путем растворения пробы в азотной кислоте и термическом разложении солей
  • ГОСТ 27981.3-88.
    заменён
    от: 01.08.2013
    Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно - спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра
    Copper of high purity. Method of emission-spectral analysis with photoelectric registration of spectrum
    Настоящий стандарт устанавливает эмиссионно-спектральный метод определения примесей в меди высокой чистоты в диапазонах массовых долей х.10 в ст. минус 4. Метод основан на измерении интенсивностей спектральных линий определяемых элементов на дифракционном спектрометре типа МФС-6, МФС-8. Спектр излучения возбуждается дугой постоянного тока между подставным графитовым электродом и таблеткой оксида меди, полученной путем растворения пробы в азотной кислоте и термическом разложении солей
  • ГОСТ 27981.4-88.
    заменён
    от: 01.08.2013
    Медь высокой чистоты. Методы атомно - абсорбционного анализа
    Copper of high purity. Methods of atomic-absorption analysis
    Настоящий стандарт устанавливает атомно-абсорбционные методы определения элементов в меди высокой чистоты
  • ГОСТ 27981.4-88.
    заменён
    от: 01.08.2013
    Медь высокой чистоты. Методы атомно - абсорбционного анализа
    Copper of high purity. Methods of atomic-absorption analysis
    Настоящий стандарт устанавливает атомно-абсорбционные методы определения элементов в меди высокой чистоты
  • ГОСТ 27981.4-88.
    заменён
    от: 01.08.2013
    Медь высокой чистоты. Методы атомно - абсорбционного анализа
    Copper of high purity. Methods of atomic-absorption analysis
    Настоящий стандарт устанавливает атомно-абсорбционные методы определения элементов в меди высокой чистоты
  • ГОСТ 27981.5-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Медь высокой чистоты. Фотометрические методы анализа
    Copper of high purity. Methods of photometric analysis
    Настоящий стандарт устанавливает фотометрические методы определения компонентов в меди высокой чистоты
  • ГОСТ 27981.5-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Медь высокой чистоты. Фотометрические методы анализа
    Copper of high purity. Methods of photometric analysis
    Настоящий стандарт устанавливает фотометрические методы определения компонентов в меди высокой чистоты
  • ГОСТ 27981.5-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Медь высокой чистоты. Фотометрические методы анализа
    Copper of high purity. Methods of photometric analysis
    Настоящий стандарт устанавливает фотометрические методы определения компонентов в меди высокой чистоты
  • ГОСТ 27981.6-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Медь высокой чистоты. Полярографические методы анализа
    Copper of high purity. Methods of polarographic analysis
    Настоящий стандарт устанавливает полярографические методы определения кадмия (при массовой доле 0,00006 до 0,00005 до 0,0015 %), сурьмы (при массовой доле от 0.00006 до 0,0015%) и теллура (при массовой доле от 0,00003 до 0,0001 %) в меди высокой чистоты

1 2 3 4 5537 538 539 540 541 542 543 544 545 546 547593 594 595 596 597

5 декабря 2024:
Проверка данных о маркировке: начнётся эксперимент в системе «Честный ЗНАК» Читать далее
22 ноября 2024:
Повысятся ли затраты на сертификацию с 2025 года? Читать далее
7 ноября 2024:
Терминология кабельной продукции обновлена: ГОСТ 15845-2024 Читать далее