ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → МЕТАЛЛУРГИЯ
77. МЕТАЛЛУРГИЯ
← 1 2 3 4 5 … 537 538 539 540 541 542 543 544 545 546 547 … 593 594 595 596 597 →
- Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно - спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра
Copper of high purity. Method of emission-spectral analysis with photoelectric registration of spectrum
Настоящий стандарт устанавливает эмиссионно-спектральный метод определения примесей в меди высокой чистоты в диапазонах массовых долей х.10 в ст. минус 4. Метод основан на измерении интенсивностей спектральных линий определяемых элементов на дифракционном спектрометре типа МФС-6, МФС-8. Спектр излучения возбуждается дугой постоянного тока между подставным графитовым электродом и таблеткой оксида меди, полученной путем растворения пробы в азотной кислоте и термическом разложении солей - Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно - спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра
Copper of high purity. Method of emission-spectral analysis with photoelectric registration of spectrum
Настоящий стандарт устанавливает эмиссионно-спектральный метод определения примесей в меди высокой чистоты в диапазонах массовых долей х.10 в ст. минус 4. Метод основан на измерении интенсивностей спектральных линий определяемых элементов на дифракционном спектрометре типа МФС-6, МФС-8. Спектр излучения возбуждается дугой постоянного тока между подставным графитовым электродом и таблеткой оксида меди, полученной путем растворения пробы в азотной кислоте и термическом разложении солей - Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно - спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра
Copper of high purity. Method of emission-spectral analysis with photoelectric registration of spectrum
Настоящий стандарт устанавливает эмиссионно-спектральный метод определения примесей в меди высокой чистоты в диапазонах массовых долей х.10 в ст. минус 4. Метод основан на измерении интенсивностей спектральных линий определяемых элементов на дифракционном спектрометре типа МФС-6, МФС-8. Спектр излучения возбуждается дугой постоянного тока между подставным графитовым электродом и таблеткой оксида меди, полученной путем растворения пробы в азотной кислоте и термическом разложении солей - Медь высокой чистоты. Методы атомно - абсорбционного анализа
Copper of high purity. Methods of atomic-absorption analysis
Настоящий стандарт устанавливает атомно-абсорбционные методы определения элементов в меди высокой чистоты - Медь высокой чистоты. Методы атомно - абсорбционного анализа
Copper of high purity. Methods of atomic-absorption analysis
Настоящий стандарт устанавливает атомно-абсорбционные методы определения элементов в меди высокой чистоты - Медь высокой чистоты. Методы атомно - абсорбционного анализа
Copper of high purity. Methods of atomic-absorption analysis
Настоящий стандарт устанавливает атомно-абсорбционные методы определения элементов в меди высокой чистоты - Медь высокой чистоты. Фотометрические методы анализа
Copper of high purity. Methods of photometric analysis
Настоящий стандарт устанавливает фотометрические методы определения компонентов в меди высокой чистоты - Медь высокой чистоты. Фотометрические методы анализа
Copper of high purity. Methods of photometric analysis
Настоящий стандарт устанавливает фотометрические методы определения компонентов в меди высокой чистоты - Медь высокой чистоты. Фотометрические методы анализа
Copper of high purity. Methods of photometric analysis
Настоящий стандарт устанавливает фотометрические методы определения компонентов в меди высокой чистоты - Медь высокой чистоты. Полярографические методы анализа
Copper of high purity. Methods of polarographic analysis
Настоящий стандарт устанавливает полярографические методы определения кадмия (при массовой доле 0,00006 до 0,00005 до 0,0015 %), сурьмы (при массовой доле от 0.00006 до 0,0015%) и теллура (при массовой доле от 0,00003 до 0,0001 %) в меди высокой чистоты
← 1 2 3 4 5 … 537 538 539 540 541 542 543 544 545 546 547 … 593 594 595 596 597 →