ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045 → Диоды
31.080.10. Диоды
← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 →
- Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки - Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки - Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки - Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки - Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод - Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод - Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения - Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения - Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения - Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления